Processus de verification des mesures de logiciels selon la perspective de metrologie

En genie logiciel, la plupart des mesures ont ete proposees en se basant uniquement sur les concepts de la "theorie de mesure". Cependant, dans les autres disciplines matures du genie, c'est le domaine de connaissance se referant a la "metrologie" qui represente la base pour le developpement et l'utilisation des instruments de mesure et des processus de mesure. L'objectif principal de cette these consiste a developper un cadre integre pour le processus de verification des methodes de mesure de logiciels et qui integre la perspective de metrologie au domaine de mesure de logiciels. Pour atteindre cet objectif, le document ISO de la metrologie VIM a ete modelise et un cadre de reference de verification de mesure a ete developpe. Ce cadre a ete utilise pour analyser les normes ISO et le domaine de connaissance de la mesure en genie logiciel. Le resultat de cette analyse a revele l'importance de la metrologie non seulement pour ameliorer le design des mesures proposees a l'industrie mais aussi pour analyser la qualite des instruments de mesure qui lui sont associes. Le cadre integre pourra etre utilise comme un modele d'une meta-norme pour concevoir de nouvelles mesures. Enfin, l'ensemble des modeles developpes n'est pas restreint au genie logiciel et il pourrait etre utile egalement a l'ensemble des domaines de la mesure.