| Les proprietes thermiques des materiaux sont fondamentalement importantes dans de nombreuses applications. Ces proprietes interviennent en effet dans tout processus degageant de la chaleur, L'interet envers ces proprietes peut etre d'ordre academique, lorsqu'on s'interesse a connaitre la nature physique du transfert thermique, ou d'ordre pratique, pour s'assurer que les equipements ne vont pas etre endommages par une accumulation excessive de chaleur. Bien que plusieurs methodes existent pour mesurer ces proprietes, elles presentent souvent plusieurs desavantages et ne sont generalement pas appropriees lorsqu'on travaille avec de petits volumes. Or, dans les domaines ou la quantite de materiau disponible est limitee, il est important de pouvoir effectuer des mesures sur de petits volumes.;Dans cette these, nous presentons une methode optique permettant de mesurer les proprietes thermiques des echantillons ayant des dimensions allant de quelques centaines de micrometres jusqu'a des couches minces de quelques dizaines de nanometres. La methode a l'avantage d'etre non-destructive, rapide et de posseder une grande exactitude. Nous presenterons la methode experimentale ainsi que les simulations numeriques permettant de bien interpreter les resultats experimentaux.;Avec l'avenement des nouvelles technologies, les procedes de miniaturisation tendent a reduire davantage les dimensions des composantes utilisees, en vue d'accroitre la puissance des dispositifs. Tel est le cas, par exemple, de l'integration a tres grande echelle (VLSI : Verv Large Scale Integration), une technologie de circuit integre dont la densite d'integration permet de supporter plus de 100 000 composantes electroniques sur une meme puce. Des composantes de l'ordre de 40 nm sont ainsi fabriquees. Ici aussi il est important de pouvoir mesurer les proprietes thermiques afin de verifier si elles sont modifiees a cause des faibles dimensions et, si c'est le cas, a quel point elles sont modifiees. |
